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产品描述：MProbe MSP显微薄膜测厚仪适用于实时在线测量，多层测量，非均匀涂层, 软件包含大量材料库
产品描述：采用近红外光谱(NIR)的测厚仪可以用于测量一些可见光和紫外光无法使用的应用领域
产品描述：大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。
产品描述：MProbe UVVisSR薄膜测厚仪大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。
产品描述：MProbe Vis薄膜测厚仪大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。
产品描述：反射光谱干涉法是一种非接触式、无损的、快速的光学薄膜厚度测量技术。
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